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如何提高國(guó)產(chǎn)網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)試精度？
日期：2022-09-13瀏覽：2025次
國(guó)產(chǎn)網(wǎng)絡(luò)分析儀可以分為標(biāo)量（只包含幅度信息）和矢量（包含幅度和相位信息）兩種分析儀。標(biāo)量分析儀曾一度因其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，成本低廉而廣泛使用。矢量分析儀可以提供更好的誤差校正和更復(fù)雜的測(cè)量能力。隨著技術(shù)的進(jìn)步，集成度和計(jì)算效率的提高，成本的降低，使用越來(lái)越普及。
如何提高國(guó)產(chǎn)網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)試精度：
誤差來(lái)源：
1）系統(tǒng)誤差：由于測(cè)試儀表原理或測(cè)試設(shè)備引起，變化有規(guī)律；能夠被定量描述；可通過(guò)校準(zhǔn)消除。
2）隨機(jī)誤差：設(shè)備噪聲、開(kāi)關(guān)重復(fù)性、連接器重復(fù)性，隨時(shí)間隨機(jī)變化；不能通過(guò)校準(zhǔn)消除。
3）飄移誤差：主要由溫度變化造成，通過(guò)定期計(jì)量消除。
關(guān)于這些誤差，一般可通過(guò)定期計(jì)量來(lái)消除；在每次測(cè)試時(shí)正確合理使用校準(zhǔn)件進(jìn)行校準(zhǔn)，也是可以提高測(cè)試精度的。
國(guó)產(chǎn)網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)量校準(zhǔn)：
既然說(shuō)校準(zhǔn)，肯定是為了消除誤差。那么網(wǎng)分的誤差來(lái)自于哪些方面呢？
測(cè)量誤差主要包括：隨機(jī)誤差、系統(tǒng)誤差、漂移誤差。
系統(tǒng)誤差則包括網(wǎng)絡(luò)儀內(nèi)部測(cè)試裝置的系統(tǒng)響應(yīng)和外部測(cè)試裝置的系統(tǒng)響應(yīng)。
漂移誤差由于溫度引起的。它可以通過(guò)其它校準(zhǔn)來(lái)去除。一般在測(cè)試設(shè)備可使用溫度范圍的中值進(jìn)行使用可以將該誤差降到更低。
隨機(jī)誤差則包括測(cè)試裝置的穩(wěn)定性和儀器的穩(wěn)定性。其主要組成為設(shè)備噪聲，例如采樣噪聲，IF底噪等，切換重復(fù)性以及接口重復(fù)性。當(dāng)使用網(wǎng)分時(shí)，由于隨機(jī)性所以無(wú)法通過(guò)校準(zhǔn)去除，可以通過(guò)提升信號(hào)源功率，降低IF帶寬或者多次掃頻求平均的方法來(lái)降低噪聲誤差。
所以校準(zhǔn)主要彌補(bǔ)的是系統(tǒng)和漂移誤差。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ài)斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺(jué)篩選
- 哈希HACH/萬(wàn)通Metrohm
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 艾卡IKA
- 愛(ài)色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 美國(guó)BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛(ài)德萬(wàn)ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質(zhì)譜GC
- 默克Merck密理博Millipore
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
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