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示波器有時(shí)捕獲不到波形
日期：2012-08-02瀏覽：4873次
示波器有時(shí)捕獲不到波形
待決問(wèn)題：示波器有時(shí)捕獲不到波形
分析處理過(guò)程：
分析處理過(guò)程：
1、 模擬雷擊試驗(yàn)，分別將5KV，10KV，15KV,20KV高壓電擊被測(cè)物，產(chǎn)生的電流分別為20－80KA左右，通過(guò)客戶的測(cè)試控制軟件，可將示波器觸發(fā)電平設(shè)置為下降沿0.1V,0.2V,0.5V,0.6V，充電到預(yù)設(shè)高壓，有時(shí)能捕獲到周期為80us的放電波形，但有時(shí)捕獲到的只是干擾信號(hào)，或看似零信號(hào)；
2、 檢查確保所有測(cè)試連接線端，測(cè)試軟件，示波器工作正常；
3、 將觸發(fā)設(shè)置為自動(dòng)，且不設(shè)置觸發(fā)電平，監(jiān)測(cè)波形，目的是不加任何信號(hào)捕獲條件限制（放寬捕獲條件），以檢驗(yàn)待測(cè)信號(hào)每次試驗(yàn)都存在與否，再次進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)如上圖所示的信號(hào)一閃而過(guò)，得證信號(hào)存在；
4、 觸發(fā)電平設(shè)置得太低，導(dǎo)致稍有微小電平的干擾都符合觸發(fā)條件，示波器繼而實(shí)施捕獲；
5、 因?yàn)樵囼?yàn)接收到的電壓為200V左右，示波器探頭使用10X，故將觸發(fā)電平設(shè)置為1－5V，問(wèn)題解決，每次試驗(yàn)都能捕獲到真實(shí)的雷擊信號(hào)。
2、 檢查確保所有測(cè)試連接線端，測(cè)試軟件，示波器工作正常；
3、 將觸發(fā)設(shè)置為自動(dòng)，且不設(shè)置觸發(fā)電平，監(jiān)測(cè)波形，目的是不加任何信號(hào)捕獲條件限制（放寬捕獲條件），以檢驗(yàn)待測(cè)信號(hào)每次試驗(yàn)都存在與否，再次進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)如上圖所示的信號(hào)一閃而過(guò)，得證信號(hào)存在；
4、 觸發(fā)電平設(shè)置得太低，導(dǎo)致稍有微小電平的干擾都符合觸發(fā)條件，示波器繼而實(shí)施捕獲；
5、 因?yàn)樵囼?yàn)接收到的電壓為200V左右，示波器探頭使用10X，故將觸發(fā)電平設(shè)置為1－5V，問(wèn)題解決，每次試驗(yàn)都能捕獲到真實(shí)的雷擊信號(hào)。
產(chǎn)品分類(lèi)
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車(chē)充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ài)斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
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- 愛(ài)色麗X-Rite/電色NIPPON
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- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 美國(guó)BK PRECISION
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- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
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- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
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- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車(chē)電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
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